清洁焊盘、芯片电极与引线框架表面的有机残留和微污染,为金线、铝线或铜线键合建立更稳定的界面条件。
根据焊盘金属、污染物和器件敏感性选择温和且可重复的处理窗口。
减少残胶、指纹、助焊剂及存储过程中吸附的有机物。
降低局部污染造成的焊点不均、虚焊和键合漂移。
结合拉力、剪切、断点模式与外观对工艺效果进行判断。
提供焊盘材料、污染现象和当前键合数据,便于快速评估。