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WIRE BOND PLASMA CLEANING

引线键合前等离子清洗

清洁焊盘、芯片电极与引线框架表面的有机残留和微污染,为金线、铝线或铜线键合建立更稳定的界面条件。

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引线键合前焊盘等离子清洗工艺图
PROCESS PURPOSE

围绕焊盘洁净与键合稳定性

根据焊盘金属、污染物和器件敏感性选择温和且可重复的处理窗口。

01 · 去污

清洁键合区域

减少残胶、指纹、助焊剂及存储过程中吸附的有机物。

02 · 稳定

改善键合条件

降低局部污染造成的焊点不均、虚焊和键合漂移。

03 · 验证

关注拉力剪切

结合拉力、剪切、断点模式与外观对工艺效果进行判断。

VALIDATION FLOW

建议工艺验证流程

  1. 识别焊盘确认金、铝或铜体系及表面镀层。
  2. 定义污染确认有机残留、氧化和颗粒来源。
  3. 小步优化逐步验证气体、功率和处理时间。
  4. 键合验证对比拉力、剪切与断裂模式。
敏感芯片和薄金属层应重点验证过度处理、静电与温升风险。

申请引线键合样品测试

提供焊盘材料、污染现象和当前键合数据,便于快速评估。