针对铟、锡、铜微凸块阵列及芯片封装界面进行低温干式清洁,减少氧化层和有机污染对润湿、焊接与互连可靠性的影响。
在不引入湿化学残留的前提下,为微凸块焊接、芯片贴装和后续底部填充建立稳定界面。
清除微凸块阵列表面的有机残留、微量污染和松散颗粒。
根据铟、锡或铜体系匹配气体配方,降低氧化物对润湿和互连的影响。
为焊接、键合与底部填充提供更一致的表面状态。
实际参数需结合凸块金属、间距、污染类型与后续互连工艺确认。
提交凸块材质、污染情况和后续工序,由技术工程师评估。